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Professur für Technische Informationssysteme

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Test und Diagnose von Anwendungssystemen

Inhaltsverzeichnis

[1.  Aktuelles]
[2.  Einordnung der Lehrveranstaltung]
[3.  Überblick]
[4.  Gliederung der Vorlesung]
[5.  Vorlesungsmaterialien]

     

1.  Aktuelles

Lehrveranstaltung war im Sommersemester 2010 letztmalig im Angebot.
Ähnliche Inhalte werden in den Lehrveranstaltungen "Einführung in die Angewandte Informatik" ab Wintersemester 2010/11 sowie "Monitoring und Diagnose" ab Sommersemester 2011 angeboten.

     

2.  Einordnung der Lehrveranstaltung

Studiengänge: Informatik (Bakkalaureat, Diplom),
Informationssystemtechnik (Diplom),
Softwaretechnik (Diplom),
Wirtschaftsinformatik (Master)
Art der Lehrveranstaltung: Wahlpflichtfach im Modul WI-MA-08-03 (Wirtschaftsinformatik),
Wahlpflichtfach in den Fachgebieten Systemorientierte Informatik und Softwaretechnik (sonstige Studiengänge)
Zeitliche Einbindung: Sommersemester
Empfohlenes Semester: 2. Semester (Wirtschaftsinformatik),
4. Semester (Softwaretechnik),
Hauptstudium, 6. oder 8. Semester (Informatik, Informationssystemtechnik)
Umfang in SWS (V/Ü/P): 2/2/0 (Leistungspunkte für modularisierte Studiengänge entsprechend der jeweiligen Modulbeschreibung)
Erwünschte Vorkenntnisse: Vorlesungen des Grundstudiums,
insbesondere Systemorientierte Informatik (Informatik, Softwaretechnik)
Form des Abschlusses: Teil einer mündlichen Modulprüfung (Wirtschaftsinformatik),
Teil einer mündlichen Komplexprüfung (sonstige Studiengänge)
Fortsetzungsmöglichkeiten: Praktikum und Komplexpraktikum Technische Informationssysteme,
Hauptseminar Technische Informationssysteme
sowie weitere Lehrveranstaltungen im Fachgebiet "Systemorientierte Informatik",
Studienarbeiten

     

3.  Überblick

In der Vorlesung stehen Methoden für Test und Diagnose von Echtzeitsystemen in den verschiedenen Lebensphasen (Entwicklung, Inbetriebnahme, Dauerbetrieb usw.) im Vordergrund. Dazu wird im ersten Teil als Fallbeispiel ein konkretes, vernetztes Rechnersystem beschrieben und die für die jeweiligen Hierarchieebenen typischen Fehlerklassen dargestellt. Anschließend werden an diesem Beispiel Methoden und Werkzeuge für Test und Diagnose erläutert und durch Laborvorführungen ergänzt.

     

4.  Gliederung der Vorlesung

  1. Komplexe Echtzeitsysteme und typische Fehlerklassen; Embedded Systems; Parallelverarbeitung; Verteilte Systeme
  2. Test komplexer Echtzeitsysteme
    1. Überblick (Vollständigkeit, Kausalität, dynamische und closed-loop-Systeme)
    2. Strukturtest (Debug-Werkzeuge, Überdeckungssystematiken, Pfadüberdeckung)
    3. Funktionstest (cause-effect-Analyse, Äquivalenzklassenbildung, Grenzwertanalyse, Klassifikationsbaum-Methode)
    4. Kombination von Struktur- und Funktionstest
    5. Besonderheiten beim Test komplexer Systeme (Test paralleler Systeme, Test von Echtzeitsystemen)
  3. Diagnose komplexer Echtzeitsysteme
    1. Messung (Signale, Software-Monitore, Protokoll-Monitore, Zeit in verteilten Systemen)
    2. Interpretation (Mustererkennung, Bedingungs- und Ereignisgefüge, Metrik, Rekursion)
    3. Modellbildung (Modelle stetiger und diskreter Signale, Systemmodelle, Suche nach Zusammenhängen und Abhängigkeiten, Modelle dynamischer und diskreter Systeme)
    4. Merkmalextration; Symptomangabe; Fehlererkennung und -behandlung
  4. Systemüberwachung und -sicherung (Expertensysteme zur Prozessüberwachung, Fehlererkennung, -lokalisierung, -klassifizierung)

     

5.  Vorlesungsmaterialien

  • Zusatzmaterialien zur Vorlesung (PDF)
Stand: 11.10.2012, 13:10 Uhr
Autor: Dipl.-Inf. Andreas Richter

Kontakt
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Prof. Dr.-Ing. habil.
Klaus Kabitzsch

Tel.: +49 (0) 351 463-38289
Fax: +49 (0) 351 463-38460
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Dr.-Ing.
Volodymyr Vasyutynskyy

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